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      介質(zhì)損耗試驗原理,介質(zhì)損耗試驗原理圖?

      隨著電子行業(yè)的不斷發(fā)展,電子元器件的質(zhì)量成為影響產(chǎn)品質(zhì)量的一個關(guān)鍵因素。而介質(zhì)損耗試驗是通過測量介質(zhì)材料在電場作用下的能量轉(zhuǎn)換效率,評估電子元器件質(zhì)量的一種試驗方法。

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      介質(zhì)損耗試驗原理

      介質(zhì)損耗是指材料在電場作用下產(chǎn)生的能量散失,這種能量散失會導(dǎo)致介質(zhì)溫度升高。在介質(zhì)損耗試驗中,電極會產(chǎn)生電場,將電能傳遞給試樣內(nèi)部的介質(zhì)材料。由于材料內(nèi)部存在摩擦、電子碰撞等因素,部分電能會被轉(zhuǎn)化為熱能,導(dǎo)致材料溫度升高。通過測量材料的溫度變化,可以計算出材料的介質(zhì)損耗系數(shù)。

      介質(zhì)損耗試驗原理圖如下:

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      (圖片來源:https://www.rs-online.com)

      試驗流程

      介質(zhì)損耗試驗需要先制備試樣,通常為板狀或柱狀,大小為10mm×10mm或Φ10mm,厚度一般在1mm以內(nèi)。試樣表面要求平整,不能出現(xiàn)氣泡、氧化等影響試驗的缺陷。

      試驗前需要對試樣進行預(yù)處理,如去除灰塵、油污等;在試樣表面涂布導(dǎo)電材料,以供電極接觸。接著將試樣放置于試驗夾具中,并放入介質(zhì)損耗試驗裝置中進行測量。

      試驗中電源設(shè)為恒電流源,電流一般為10mA左右,進行10分鐘左右。試驗過程中需要不斷記錄試樣溫度變化,同時記錄電壓值、電流值等參數(shù)。

      試驗結(jié)束后對數(shù)據(jù)進行處理,可以得出試樣的介質(zhì)損耗系數(shù)和極耗值,以評估試樣的材料質(zhì)量。

      參考指南

      在進行介質(zhì)損耗試驗時,需注意以下幾點:

      1.試樣的制備要求嚴格,以確保試驗結(jié)果的準確性。

      2.試驗中需要在盡量減少外界

      專業(yè)PCB線路板制造廠家-匯和電路:15602475383  

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